- Danh mục
- Wassenaar – Danh mục hàng hóa và công nghệ lưỡng dụng – WA-LIST (25) 1
- Mục tương ứng của EU
- 6E003
a. "Công nghệ" như sau:
1. "Công nghệ" "cần thiết" cho việc phủ và xử lý bề mặt quang học để đạt độ đồng đều 'độ dày quang học' từ 99,5 % trở lên đối với lớp phủ quang học có đường kính hoặc chiều dài trục chính từ 500 mm trở lên và có tổng tổn hao (hấp thụ và tán xạ) nhỏ hơn 5 × 10-3;
Lưu ý: Xem thêm 2E003.f.
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 6E003.a.1., 'độ dày quang học' là tích số của chiết suất và độ dày vật lý của lớp phủ.
2. "Công nghệ" chế tạo quang học sử dụng kỹ thuật tiện kim cương một điểm để tạo ra "độ chính xác" hoàn thiện bề mặt nhỏ hơn (tốt hơn) 10 nm rms trên các bề mặt không phẳng có diện tích vượt quá 0,5 m2;
b. "Công nghệ" "cần thiết" cho việc "phát triển", "sản xuất" hoặc "sử dụng" các dụng cụ chẩn đoán hoặc bia được thiết kế đặc biệt trong các cơ sở thử nghiệm dùng để thử nghiệm "SHPL" hoặc thử nghiệm hay đánh giá vật liệu được chiếu xạ bằng chùm tia "SHPL";
1. "Công nghệ" "cần thiết" cho việc phủ và xử lý bề mặt quang học để đạt độ đồng đều 'độ dày quang học' từ 99,5 % trở lên đối với lớp phủ quang học có đường kính hoặc chiều dài trục chính từ 500 mm trở lên và có tổng tổn hao (hấp thụ và tán xạ) nhỏ hơn 5 × 10-3;
Lưu ý: Xem thêm 2E003.f.
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 6E003.a.1., 'độ dày quang học' là tích số của chiết suất và độ dày vật lý của lớp phủ.
2. "Công nghệ" chế tạo quang học sử dụng kỹ thuật tiện kim cương một điểm để tạo ra "độ chính xác" hoàn thiện bề mặt nhỏ hơn (tốt hơn) 10 nm rms trên các bề mặt không phẳng có diện tích vượt quá 0,5 m2;
b. "Công nghệ" "cần thiết" cho việc "phát triển", "sản xuất" hoặc "sử dụng" các dụng cụ chẩn đoán hoặc bia được thiết kế đặc biệt trong các cơ sở thử nghiệm dùng để thử nghiệm "SHPL" hoặc thử nghiệm hay đánh giá vật liệu được chiếu xạ bằng chùm tia "SHPL";
Nguyên văn tiếng Anh
a. ACOUSTICS - None
b. OPTICAL SENSORS - None
c. CAMERAS - None
OPTICS
d. "Technology" as follows:
1. "Technology" "required" for the coating and treatment of optical surfaces to achieve an 'optical thickness' uniformity of 99.5% or better for optical coatings 500 mm or more in diameter or major axis length and with a total loss (absorption and scatter) of less than 5 x 10⁻³;
N.B. See also 2.E.3.f.
Technical Note
For the purposes of 6.E.3.d.1., 'optical thickness' is the mathematical product of the index of refraction and the physical thickness of the coating.
2. "Technology" for the fabrication of optics using single point diamond turning techniques to produce surface finish "accuracies" of less (better) than 10 nm rms on non-planar surfaces exceeding 0.5 m²;
LASERS
e. "Technology" "required" for the "development", "production" or "use" of specially designed diagnostic instruments or targets in test facilities for "SHPL" testing or testing or evaluation of materials irradiated by "SHPL" beams;
f. MAGNETIC AND ELECTRIC FIELD SENSORS - Not used since 2004
g. GRAVIMETERS - None
h. RADAR - None
[1] ^(.) * The Russian Federation and Ukraine view this list as a reference list drawn up to help in the selection of dual-use goods which could contribute to the indigenous development, production or enhancement of conventional munitions capabilities.
b. OPTICAL SENSORS - None
c. CAMERAS - None
OPTICS
d. "Technology" as follows:
1. "Technology" "required" for the coating and treatment of optical surfaces to achieve an 'optical thickness' uniformity of 99.5% or better for optical coatings 500 mm or more in diameter or major axis length and with a total loss (absorption and scatter) of less than 5 x 10⁻³;
N.B. See also 2.E.3.f.
Technical Note
For the purposes of 6.E.3.d.1., 'optical thickness' is the mathematical product of the index of refraction and the physical thickness of the coating.
2. "Technology" for the fabrication of optics using single point diamond turning techniques to produce surface finish "accuracies" of less (better) than 10 nm rms on non-planar surfaces exceeding 0.5 m²;
LASERS
e. "Technology" "required" for the "development", "production" or "use" of specially designed diagnostic instruments or targets in test facilities for "SHPL" testing or testing or evaluation of materials irradiated by "SHPL" beams;
f. MAGNETIC AND ELECTRIC FIELD SENSORS - Not used since 2004
g. GRAVIMETERS - None
h. RADAR - None
[1] ^(.) * The Russian Federation and Ukraine view this list as a reference list drawn up to help in the selection of dual-use goods which could contribute to the indigenous development, production or enhancement of conventional munitions capabilities.